试验箱系列
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CJS系列三箱换气式温冲


      该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。


三箱式:高温区、低温区、测试区三部分,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态









型号

CJS-02

CJS-03

CJS-05

 

 

 

 

 

 

 



预热室

预热温度上限

200℃

温度上升时间

+20~+200℃约20min

预冷室

预冷温度下限

-75℃

温度下降时间

+20~-70℃约80min

工作室

温度冲击范围

(-55℃~-10)~(50~+150℃)

温度波动度

≤±0.5℃

温度偏差

≤±2℃

温度回复时间

≤5min

 
 温
 
 
 
 
 

CJS-02

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

CJS-02

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC。

条件三

高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min,样品重量7.5Kg塑封IC。

CJS-03

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

CJS-03

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC。

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC

条件三

高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

CJS-05

条件一

 高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。

CJS-05

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC。

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min,样品重量20Kg塑封IC。

条件三

高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min,样品重量10Kg塑封IC。


外壳

 冷轧钢板表面喷塑

内胆

不锈钢板

隔热材料

聚氨酯发泡+超细玻璃棉


制冷方式

复叠式双级压缩机制冷方式(水冷)

制冷机

进口压缩机

测试孔

左侧Φ50mm1个

控制器

PLC控制器、彩色液晶显示触摸屏

记录装置/电脑接口

微型打印机/ RS485接口、RS232转换线(选配)

工作室尺寸(mm)

D×W ×H

670×650×460

670×970×460

670×970×780

外部尺寸(mm)

D×W ×H

2245×1610×1995

2245×1940×1995

2245×1940×2315

装机功率(KW)

I/ II

35/ 46

48/56

50/56

   电源

 AC380V/50Hz三相四线制+接地线

标准配置

产品使用说明书1份、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、打印纸5只、

搁板2块、搁条4根、色带1只、硅橡胶软塞一套,带脚轮

满足标准

GJB150.5

注: 水冷型(水温10~28℃,水压0.1~0.3Mpa,以便确保降温性能);